تحلیل عیوب و ریزساختار به کمک پراش
پراش اشعه ایکس اولین بار برای شناسایی ساختار مواد بلورین بکار گرفته شد. اما به زودی مشخص شد که ساختار واقعی مواد بلورین کاملاً پریودیک نیست. پس از آن کشف شد که مواد بلوری طبیعی و مصنوعی از نظم حالت ایده‌آل انحرافات زیادی دارند*.
بنابراین مطالعهٔ ساختار حقیقی جامدات و انحرافات مختلف ار حالت ایده‌آل اهمیت زیادی دارد. مبحث بررسی نابجایی‌ها و ریزساختار به کمک پراش به این موضوع اختصاص دارد.
تاریخچهٔ منابع
اولین مقاله در مورد آنالیز ساختار واقعی مواد چگال به کمک پراش اشعه ایکس توسط کیتایی گورودسکی نوشته شده و در سال ۱۹۵۲ چاپ شد*. مدت اندکی پس از آن دو کتاب به نام‌های تئوری و تکنیک رادیوکریستالوگرافی توسط گوینر(۱۹۵۶)* و تحلیل مستقیم پراش ماده توسط هوسمان(۱۹۶۲)* چاپ شدند. بعدها منابع متعدد دیگری در این زمینه به چاپ رسیدند.
روش‌ها و تکنیک‌ها
چند روش پراش اشعه ایکس برای تحلیل ساختار واقعی مواد ابداع شده‌اند. از جمله روش پفلاند-موریتز (۱۹۹۲)* و همچنین روش ولبری-بولتز(۱۹۹۴)*
تکنیک‌هایی نیز وجود دارند که از عریض شدن خطوط پراش، واریانس پیک‌ها، ضرایب فوریه و… برای شناسایی عیوب خطی، عیوب صفحه‌ای، اندازهٔ ناحیهٔ همدوس، پاراکریستالی بودن، کرنش در شبکه و … استفاده می‌کنند.
منابع
- ^ Von Laue, M. , R'ntgenstrahlinterferenzen, 3rd edition. Frankfurt an Main: Akademische Verlagsgesellschaft - 1960.
- ^ Kitaigorodskii, A.I. , X-ray stracture analysis of fine-grained and amorphous materials(به روسی) Moscow-Leningrad: GITT - 1952.
- ^ Guinier, A. , Théorie et Technique de la Radiocristallographie, Paris: Dunod - 1956.
- ^ Hosemann R. , Bagchi, S.N, Direct analysis of Differaction by Matter, Amsterdam: North-Holland Publishing Company - 1962.
- ^ Pflanz, S. , Moritz, W. , Acata Cryst., A48(1992), 716-727.
- ^ Wellberry, T.R. , Bulter, B.L. , J. Appl. Cryst., 27 (1994), 205-231.
منابعی برای مطالعهٔ بیشتر
- Snyder, R.L. , Fiala, J. , Bunge, H.J. , Defect and Microstructure Analysis by Diffraction, OXFORD Science publishing - 1999.
- Billinge,S.J.L. , Thorpe, M.F. , Local Structure from Diffraction, Kluwer Academic Publishers, 2002.