بازتابندگی پرتو ایکس

بازتابندگی پرتو ایکس[1](به انگلیسی: X-ray reflectivity) (گاهی اوقات با عنوان بازتاب‌سنجی اشعه ایکس یا XRR نیز شناخته می‌شود.) یک روش تحلیلی حساس به سطح است که در شیمی، فیزیک و علوم مواد برای توصیف سطوح، لایه‌های نازک و چند لایه استفاده می‌شود.[2][3][4][5]

نموداری از اساس عملکرد بازتابندگی پرتو ایکس

منابع
  1. پور جوادی، علی (۱۳۹۳). واژه‌نامه علوم و فناوری شیمی. تهران: فرهنگ معاصر. شابک ۹۷۸-۶۰۰-۱۰۵-۰۷۱-۸.
  2. Holy, V.; Kuběna, J.; Ohli´dal, I.; Lischka, K.; Plotz, W. (1993-06-15). "X-ray reflection from rough layered systems". Physical Review B. American Physical Society (APS). 47 (23): 15896–15903. doi:10.1103/physrevb.47.15896. ISSN 0163-1829.
  3. J. Als-Nielsen, D. McMorrow, Elements of Modern X-Ray Physics, Wiley, New York, (2001).
  4. J. Daillant, A. Gibaud, X-Ray and Neutron Reflectivity: Principles and Applications. Springer, (1999).
  5. M. Tolan, X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films, Springer, (1999).
This article is issued from Wikipedia. The text is licensed under Creative Commons - Attribution - Sharealike. Additional terms may apply for the media files.